* Please refer to the English Version as our Official Version.
支付方式 | |
送貨服務 |
我們保證100%的客戶滿意度。
我們經驗豐富的銷售團隊和技術支持團隊支持我們的服務以滿足所有客戶。
我們提供90天保修。
如果您收到的物品質量不合格,我們將負責您的退款或更換,但物品必須以原始狀態退回。
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW D# V36:1790_07335374 |
Texas Instruments |
Scan Test Device RoHS: Compliant
|
0 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments | 30 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
SCAN TEST DEVICE, D-FLIP FLOP SOIC24, Flip-Flop Type:D, Propagation Delay:6.7ns, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Frequency:70MHz, Output Current:64mA, Packaging:Each , RoHS Compliant: Yes |
0 |
SN74BCT8374ADWRG4 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADWRE4 |
Rochester Electronics LLC |
74BCT8374 Flip Flop SN74BCT8374ADWRE4 |
0 |
SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
N/A BCT/FBT SERIES, 8-BIT BOUNDARY SCAN DRIVER, TRUE OUTPUT, PDSO24 PLASTIC, SO-24 |
1000 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADWR D# SN74BCT8374ADWR-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADWRE4 D# SN74BCT8374ADWRE4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADWRG4 D# SN74BCT8374ADWRG4-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC |
0 |
SN74BCT8374ADW D# 296-33849-5-ND |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC |
75 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
3154 | |
SN74BCT8374ADWR |
OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS |
2378 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1060 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
862 |
SN74BCT8374ADWR00 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
536 |
SN74BCT8374ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
306 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW D# 595-SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop RoHS: Compliant
|
104 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADWR D# NS-SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5215 |
SN74BCT8374ADWRE4 D# NS-SN74BCT8374ADWRE4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
1821 |
SN74BCT8374ADWRG4 D# NS-SN74BCT8374ADWRG4 |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5376 |
SN74BCT8374ADW D# NS-SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
5626 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADWR |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3020 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
OEM/CM ONLY |
3797 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
Scan Test Device With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
996 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
shipping today |
3009 |
零件編號 | 製造商 | 描述 | 庫存 |
SN74BCT8374ADW |
Texas Instruments |
RFQ |
9504 |
您有關於 SN74BCT8374ADWR 的問題嗎?
+86-755-83210559 ext. 809
掃描以查看此頁面
IC MODULE REG DC/DC 8A 68BGA
DIODE SCHOTTKY 1A 100V TO-269AA
DIE CM FLIP-FLOP DUAL D
CONN INLINE PLUG 10PIN SLD CUP
IC REG LINEAR NEG ADJ 1.5A TO3
TVS DIODE 28.2VWM 45.7VC AXIAL
IC FLASH 8MBIT 80MHZ 8SOIC
IC LED DRIVER 5-CH CMOS 20-DIP
OPTOISOLATOR 5KV TRANS 4SMD
CAP TANT 22UF 10V 10% 1206